半导体参数分析仪的FFT分析
输出参数的描述参考在表6。从返回值中,可以提取许多AC参数。对于本次测试,RC串联电路的所有计算参数如表7所示。表6.rs-cs-ac-impedance测试输出参数表7.计算参数所有输出和计算参数也返回到列表中,并在Analyze视图中绘制图形,如图9所示。数据可以在时域和频域上绘制,左图为电压和电流随时间变化的函数曲线,...
普赛斯仪表推出新品SPA6100半导体参数分析仪
导读:基于在数字源表SMU领域独特的技术优势,普赛斯仪表研制推出了SPA6100半导体参数分析仪,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发。5/27/2024,光纤在线讯,基于在数字源表SMU领域独特的技术优势,普赛斯仪表研制推出了SPA6100半导体参数分析仪,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进...
半导体器件参数分析仪B1500A电源损坏维修
KeysightB1500A半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪,能够测量IV、CV、脉冲/动态I-V等参数。主机和插入式模块能够表征大多数电子器件、材料、半导体和有源/无源元器件。B1500A半导体参数分析仪的模块化体系结构使其可以根据需要灵活升级。·可以在CV和IV测量之间快速切换,无需重新连接线缆。
丰富产品矩阵,概伦电子推出全新半导体参数测试与全自动解决方案
自动量测解决方案ATSATS自动量测解决方案是概伦电子基于FS-Pro半导体参数分析仪、981X系列噪声分析仪和低漏电矩阵开关等自研硬件设备开发的全自动测试解决方案。该方案以全面的概伦自主研发的软硬件作为系统集成基础,涵盖电流电压(IV)、电容电压(CV)、脉冲式IV、高速时域信号采集、低频噪声测试以及多种可靠性测试,是业...
【对话前沿专家】基于铁电晶体管科研,共探集成电路的创新之路
第一类是任意波形发生器(AWG),用于产生各种测试信号,特别是高速脉冲,用于测量极化翻转速度等动力学性能;第二类是半导体参数分析仪,如4200A-SCS,用于测量FeFET的电学特性,例如Ig-Vd,并搭载源测量单元(SMU)或脉冲测量单元(PMU)进行WRITE、READ操作,多用于可靠性和保持性的测试;另外,测量非常高速的信号还要用到高带宽...
【测试案例分享】 Keithley电化学测试方法与应用
源表和4200A-SCS半导体参数分析仪是电气设备表征的理想选择,因为它们可以产生和测量电流和电压(www.e993.com)2024年9月20日。4200A-SCS除了包含多个SMU外,还可以包括电容电压单元CVU或脉冲测量单元PMU。可以表征的组件可以包括碳纳米结构和器件、传感器、太阳能电池、有机半导体器件和其他结构。
泰克亮相2024慕尼黑电子展,推出前沿测试解决之道并重塑定位
泰克科技现场展示在忆阻器、OFET、碳基材料等新兴领域的最新研究成果,通过电学特性测试方案,深入了解这些材料的性能和应用,为未来的技术创新奠定基础。现场展示产品包括4200A-SCS半导体参数分析仪。EA并购,泰克产品线全面升级大功率电子测试和测量解决方案领导者Elektro-Automatik(EA)加入泰克后,EA产品与泰克产品结...
半导体行业深度分析:芯片良率重要保障,量检测设备国产替代潜力大
膜厚测量可以根据薄膜材料划分为两个基本类型,即不透明薄膜和透明薄膜。业界内一般使用四探针通过测量方块电阻计算不透明薄膜的厚度;通过椭偏仪测量光线的反射、偏射值计算透明薄膜的厚度。关键尺寸量测:半导体制程中最小线宽一般称之为关键尺寸,通过测量从晶圆表面反射的宽光谱光束的光强、偏振等参数,来测量光刻...
半导体领域国家重点实验室仪器配置清单
半导体照明联合创新国家重点实验室仪器配置五分类血液分析仪制备液相全自动生化分析仪激光共聚焦显微镜液相色谱/三重串联四极杆质谱联用系统分析液相圆二色谱仪LED照明灯具全部光通量在线加速测试设备部分光通量加速寿命在线测试评估系统高温试验箱
安捷伦B1500A分析仪增强源表和软件功能
安捷伦宣布其B1500A半导体器件分析仪增强了源表(SMU)和软件功能,全新B1514A50-μs脉冲中等电流SMU可在30V/1A范围内提供更快速的脉冲,并提供类似于示波器的视图。OPTION_5:HP安捷伦科技公司日前宣布其B1500A半导体器件分析仪,业界领先的半导体参数分析仪增强了源表(SMU)和软件功能。