X射线衍射成像技术的相关应用

5.工业领域无损检测:X射线成像技术可用于无损检测材料和产品的缺陷,如金属零件中的裂纹、焊接接口质量等,确保质量控制。质量控制:在制造过程中,XRD可用于检查产品的尺寸、形状和结构特征,及时发现偏差和不符合要求的情况,从而进行调整和改进。6.半导体行业晶体结构表征:X射线衍射技术可用于分析和表征半导体材料...

原位X射线衍射仪公开招标公告

数量:不限预算金额(元):2420000简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:原位X射线衍射仪能够精确地对粉末、薄膜等多晶样品进行物相定性定量分析、结晶度分析、晶胞参数计算、固溶体分析、晶粒大小分析、薄膜掠射、薄膜反射率、原位分析。备注:合同履约期限:标项1,合同签订后240天内交货。本项目(否)接受联合体...

从小米14 Ultra看XRD如何鉴别材料成分

当采用铜靶作为衍射源,波长为0.154nm,衍射角2θ为25.30°,测量获得的半高宽为0.375°,一般Scherrer常数取0.89.根据Scherrer公式,可以计算获得晶粒的尺寸。此外,根据晶粒大小,还可以计算纳米粉体的比表面积。小角X射线衍射:在纳米多层膜料中,两薄膜层材料反复重叠,形成调制界面。当X射线入射时,周期良好的调制界面会...

鲁东大学徐文龙课题组AFM:用于自推进机械臂无线操控的聚乙烯醇水...

通过X射线衍射(图2h)测定并计算的OxPVAHG的晶粒尺寸(图2i),氧化后OxPVAHG的结晶程度大幅增加。氧化与盐析共同促进了水凝胶的形成。图2.OxPVAHG形成机理表征。(a)OxPVA和APS水溶液的氧化还原电位。(b)PVA/APS(1wt%)混合物在不同反应时期的电子顺磁共振谱图。(c)PVA和OxPVA-1水溶液的核磁共振...

综述:同步X射线成像和衍射在增材制造中的应用 (二)

残余应力可分为晶粒尺度、微米尺度和纳米尺度三种类型。用现代测量方法很难计算纳米尺度上的残余应力。检测到的大部分残余应力都是在晶粒尺度上,其宏观特征会影响零件的物理性能。图24残余应力形成模型:a加热阶段;b冷却阶段3.2通过X射线衍射测量AM中的残余应力...

X射线残余应力检测设备简介以及适用情况

X射线可以测定1-2mm很小范围内的应力值，是距离表面10μm的应力值，若想测量深度的应力也需要对材料进行破坏(www.e993.com)2024年12月20日。当被测工件晶粒不够细化不能给出明锐的衍射线时，检测精度不高，如退火细晶材料的检测精度可以高达10MPa，而淬火硬质或者冷加工材料的检测误差高出十几倍。被测试件材料的结构、晶粒的粗细程度、衍射面的...

科学家是如何看到原子和分子的?

图5左是高温超导材料YBa2Cu3O7-δ复合薄膜截面的扫描隧道显微镜照片,从图中我们可以清晰地看到一排一排整齐排列的原子,甚至我们可以明明白白地看到原子大小的不同。在白色的Y124和黄色的Y125所标识的区域中,我们可以看出原子的排列到这里突然多了一层好像夹心饼干一样,这就是材料学上常常提到的“位错”。

激光粉末床聚变增材制造过程的原位时间分辨X射线成像和衍射仪

图6在SSRL光束线10-2处收集的衍射图案。结论我们报告了实验室规模的LPBF仪器的设计和实施,该仪器经过优化,可在同步辐射源上进行原位X射线实验,同时提供代表全尺寸LPBF机器的环境。在SSRL进行的实验产生了4kHz成像数据,有效像素大小为1.1μm,并从50×100μm区域产生了1kHz衍射数据。对数据的初步检查揭示...

《Nature》子刊:增材制造高熵合金的摩擦腐蚀响应

在1.54??Cu-Kα辐射下,利用RigakuUltimaIII进行x射线衍射分析,确定合金的晶体结构。通过EBSD分析确定晶粒的粒度分布和取向。使用非接触式白光干涉测量仪(WLI,RTEC仪器,SanJose,CA,USA)测定摩擦腐蚀引起的表面形貌和体积损失,并使用Gwyddion软件(版本2.55)进行分析。

PRL导读-2018年121卷05期

如果反射率远小于1,那么背景将主要来自于第一次回波,并且处于与近视界结构功率反射率成比例的水平,只要结构局域并且靠近视界,那么回波相对于结构位置和形状的不确定性会很强。如果可以消除双黑洞合并率的不确定性,那么第三代探测器的灵敏度允许探测对应于功率反射率为3×103的背景。他们注意到,在低频时,回波确实改变...