曹玉璐等:基于扫描电子显微镜的重矿物物源分析方法对比

工作距离是10mm,束斑直径6μm,运行加速电压和电子束电流分别为15kV和124μA,单点采集时间15s,间隔时间5s。2.2TIMA测试本文薄片样品利用北京大学造山带与地壳演化教育部重点实验室的TIMAFE-SEM-EDS系统进行测试。TIMA操作系统由一台扫描电子显微镜(FE-SEM)和四台硅漂移能量色散探测仪组成,能谱仪以...

脑洞狂飙!当物理博士,扛着显微镜穿越到明朝…

尽管还会受到其他因素的制约,但状态良好的电子显微镜的分辨率,还是能达到原子尺度。但你想想也知道,这对发射源电子枪提出了多严格的要求。而且,我们还需要保证发射出来的电子能量是单一且稳定的,这就还需要一整套的真空系统,确保电子和样品一直处于超高真空的环境下。”小张立马问道,“如果真空度不够,会怎么样?”...

关于印发《2012年湖南省普通高等学校对口招生考试基本要求及考试...

各市州教育局、职业技术学院、独立设置的成人高等学校:为做好2012年对口招生工作,根据教育部《关于制订中等职业学校教学计划的原则意见》(教职成〔2009〕2号)、《关于印发新修订的中等职业学校语文等七门公共基础课教学大纲的通知》(教职成〔2009〕3号)、《关于印发中等职业学校机械制图等9门大类专业基础课程教学大...

晶片清洗机台以及颗粒检测

有图案的晶片缺陷可通过光散射技术或光反射技术检测。为了检查局部区域的缺陷,有时需要高放大率,而扫描电子显微镜(SEM)或穿遂电子显微镜(TEM)常被用到。金属离子检测:全反射X荧光光谱(TXRF)常用来检测晶片表面金属组分浓度。由来自灯丝的电子,轰击钨或钼阳极,产生单色准直X光束,照射到晶片表面,入射角小于临界角(...

半导体设备发展趋势与前景分析

前者包括明/暗场图形缺陷检测、无图形表面检测系统、宏观缺陷检测设备等,后者利用扫描电子显微镜在前道工序中对半导体圆片上的刻蚀图形直接进行缺陷检测的工艺检测设备。其原理为通过聚焦电子束对圆片表面进行扫描,接受反射回来的二次电子和背散射电子,进而将其转换成对应的圆片表面形貌的灰度图像。通过比对圆片上不同芯片(...

中科大生命科学院近三年脑科学成果汇编:1篇Cell,4篇Nat Neurosci...

VISoR2显微镜工程简图论文链接:httpsnature/articles/s41587-021-00986-510采用基因操作小鼠,结合行为学、脑片膜片钳、化学遗传学和在体光纤记录等技术,中国科学技术大学周江宁研究组研究发现:位于下丘脑室旁核的兴奋性突触后蛋白PSD-93在抑郁症的发病中具有重要作用(www.e993.com)2024年11月28日。

【陕西中考·生物实验考试操作视频】实验操作真题及评分标准

2.调试显微镜:取镜—安放—对光。3.观察细胞的基本结构。四、实验结果依据显微镜下观察到的物像,选其中一个细胞画结构简图,并标出细胞各部分结构的名称及显微镜放大倍数。五、整理实验用品试题二观察玉米种子的结构浸软的玉米种子;稀碘液;刀片,放大镜,解剖针,滴管,培养皿。

物质波看世界 | 第一话

2.4显微镜成像光路图9给出了几种显微镜光路简图,(a)光学显微镜,(b)透射电子显微镜TEM,(c)扫描电子显微镜SEM,这几种显微镜的光路相似,都包含光源部分,光路部分和探测部分。对于光学显微镜我们都很熟悉,其核心是由多组凸透镜组成,作用是将样品的像放大并移动到合适的观察位置上。电子束和离子束由于带电,可以...

高中物理知识记忆“顺口溜”,一背就会

画反射光路图:作图首先画法线,反入夹角平分线,垂直法线立界面。光线方向要标全。画折射光路:空射水玻折向法,水玻射空偏离法。海市蜃楼是折射,观察虚像位偏高。凸透镜成像:一倍焦距不成像,内虚外实分界明;二倍焦距物像等,外小内大实像成;

Flash芯片内存提取(一)

1.新建电路板,画出电路简图,标明元器件的具体型号图:step12.确定芯片的具体尺寸根据之前datasheet的资料。我们添加1个4×6的网格作为整个芯片的BGA封装,2个1×4的网格作为连接芯片8个有效引脚的接线柱。最后一步是,用线路将这些器件连接起来:图:step2...