成都宏明电子股份有限公司采购我司四探针方块电阻测试仪
适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头,可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.三、产品描述:电阻测试范围:100uΩ-100KΩ;方阻测试范围:100u...
体积表面电阻率测试仪测试的方法
用三电极系统测试绝缘材料的体积电阻和表面电阻。屏蔽箱内三个接线端子,左侧测试端插红线,接圆柱电极(测试电极),右侧插黑线,接圆环电极,中间插入下电极(直径最大的圆柱电极)。体积电阻和体积电阻率测量——下电极为高压;环电极接地保护;测试电极为测试端。表面电阻和表面电阻率测量——环电极为高压;下电极接地保...
方阻测量仪R50 | 续写KLA产品创新的光辉历史
自1975年KLA的第一台电阻测试仪问世以来,我们的电阻测试产品已经革命性地改变了导电薄膜电阻和厚度的测量方式。而R50方块电阻测试仪则是KLA超过45年电阻测量技术发展的创新之作。R50提供了10个数量级电阻跨度范围使用的4PP四探针测试技术,以及高分辨率和高灵敏度的EC涡流技术,续写了KLA在产品创新能力和行业先锋地...
煤科院采购我司表面体积电阻率测试仪
Cliptheredconnectingwireintheelectrodeboxontheinnerelectrode,theblackconnectingwireontheannularelectrode,closetheelectrodeboxC,并将电极箱的选择开关拨至“RV”位置,测量体积电阻;或拨至“RS”位置,测量表面电阻Theselectionswitchoftheelectrodeboxissettothe"R...
9766万!厦门大学8月仪器采购意向公布:聚焦半导体领域
通过精确的沉积控制和自动化功能,能够满足半导体、光电子和能源存储等领域科研人员对高精度介质薄膜沉积的需求,符合学科发展需要。900.002024年08月8非接触式薄层电阻测试仪A02062002电气物理设备非接触方块电阻测量仪属于非破环性测量手段,可以对半导体外延片的方块电阻进行快速测量,对材料生长制备和产线制程...
基于VO2 的自适应光热和辐射制冷
如图2(a)所示,VO2薄膜在2θ值为27.88°、42.38°、52.91°、55.50°、57.48°和60.92°的平面观察到衍射峰,M相VO2薄膜被成功制备,沿(011)平面具有优选取向,如27.88°附近的强峰所示(www.e993.com)2024年10月17日。VO2薄膜的电阻温度曲线由四探针测试仪测量,如图2(b)所示。该曲线表示VO2薄膜的绝缘-金属相变随温度的变化,电阻变化为3个...
展位已订90%!半导体设备年会部分展商名单先睹为快!
缺陷检测设备、光学薄膜测量设备、光学关键尺寸测量设备、光学图像测量设备、自动多探针测试台、晶片电阻测试仪)、电镀设备、晶圆自动传送设备、老化或环境检测设备、显微系统失效分析仪器、光学显微镜、电子扫描显微镜(SEM)、聚焦离子束(FIB)、透射电子显微镜(TEM)、色谱仪、厚度测量、偏振光椭圆率测量仪、平直度测量仪...
快速·灵活·强大丨HPROBE 磁性自动测试设备 开启晶圆测试新纪元
LINX平台与200mm和300mm自动晶圆探针台兼容,用于测试基于xMR(磁阻)和霍尔效应技术的磁性传感器。该系统能够在静态和快速变化的磁场下进行测试,磁场在空间任何方向可控。LINX-1–磁性传感器测试仪LINX-1测试仪专用于磁性传感器芯片的晶圆级分选。该产品使用Hprobes的带有图形用户界面的专用一站式软件,以单通道或多通...
液体体积电阻率测试仪使用原理
根据GB1672-88标准制造,是化工、塑料、电缆、油漆等行业测定液体体积电阻系数不可缺少的专用仪器,它与高阻计配套使用。液体体积电阻率测试仪使用原理液体体积电阻系数计算公式如下:体积电阻系数(Ω·m)Rv:体积电阻(Ω)S:测量电极有效面积(m2)
表面体积电阻率测定仪 一体式设计直接读数
LST-212触摸屏电阻率测试仪简述LST-212电阻率测试仪采用PLC控制,触摸屏显示,测试过程全自动,主要用于塑料、薄膜等绝缘材料的表面电阻率、体积电阻率的测量。高阻测试仪显示模式为数显,方便用户读取、记录数据。技术参数1电阻测量范围:1×106~1×1017Ω2电阻测量误差:1×106~1×109Ω±2%;1×109...