武汉永力睿源科技取得激光芯片老化测试装置专利

武汉永力睿源科技取得激光芯片老化测试装置专利金融界2024年11月1日消息，国家知识产权局信息显示，武汉永力睿源科技有限公司取得一项名为“一种激光芯片的老化测试装置”的专利，授权公告号CN117129833B，申请日期为2023年8月。本文源自：金融界作者：情报员...

苏州欣华锐取得一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备专利

金融界2024年10月25日消息,国家知识产权局信息显示,苏州欣华锐电子有限公司取得一项名为“一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备”的专利,授权公告号CN112108401B,申请日期为2020年8月。本文源自:金融界作者:情报员

成都态坦测试取得芯片老化测试温箱专利,有助于提高芯片老化测试的...

本实用新型通过在进风口处设置分流件,以将风机从进风口吹入测试腔内的风分流成两部分,一部分被引导流向测试腔的顶部,另一部分被引导流向测试腔的底部,大大降低了测试腔内上下两端的温差,使得测试腔内的温度更加均匀,有助于提高芯片老化测试的准确性。金融界提醒:本文内容、数据与工具不构成任何投资建议,仅供参考,不...

铨兴科技“一种芯片老化自动测试方法、系统及介质”专利获授权

本申请实施例提供了一种芯片老化自动测试方法、系统及介质,该方法包括:基于老化平台设定老化环境,采集老化环境参数,其中老化环境参数包括老化环境温度、老化环境湿度与光亮信息;基于老化测试电路随机生成老化测试信号对芯片进行老化测试,得到芯片运行数据;将芯片运行数据输入老化测试模型,得到老化测试信息;基于老化测试信息进行预...

IC测试:集成电路高温动态老化测试解决方案—IC老炼测试座

高温动态老化测试是一种专门用来评估IC在长时间高温条件下性能稳定性和耐久性的测试方法。这一测试主要适用于高频通信芯片、存储器芯片以及用于严苛环境的工业级和汽车级IC等。高温环境是这些芯片在实际应用中可能遭遇到的常见挑战之一。因此，通过对IC进行高温动态老化测试，工程师能够提前发现潜在的隐患，如热应力引发的...

芯片老化问题到底有多严重?

SPICE级别:在不同的PVT应力条件和模式下对器件进行激励,然后计算退化的程度(www.e993.com)2024年11月10日。这是最准确的方法,但非常耗费资源。通过提高精度水平,保护带可以从5%-10%的范围减少到2%左右。大多数公司都会提供某种基于活动的敏感性分析,但这种分析形式可能会引入更多的老化因素,例如局部温度或其他形式的应力。

我国汽车芯片领域新突破!有望降低购车门槛

全产业链涵盖安全的可靠性认证标准体系,初步研发了一套国内汽车应用环境的功能和可靠性检验检测方法模型、汽车芯片可靠性基准测试方法模型和技术,初步形成覆盖7组44项关键项目的可靠性测试清单;研究可授权复用的芯片设计要求及汽车芯片可靠性设计审查技术规范……如此种种,看上去复杂专业,却为汽车芯片的可靠性提供了基本...

GMIF2024,与态坦测试一起见证存储芯片测试领域的全新突破!

态坦测试一直致力于攻克先进ATE(自动测试设备)架构BI(Burn-In,老化测试)测试设备中的关键技术难题,如高速通信系统、复杂算法图形生成等。通过不懈努力,公司成功研发出了一系列高性能、高集成度且具有高性价比的存储BI测试设备解决方案,实现国产半导体设备技术的突破,满足日益复杂的存储芯片所需求的高速测试方案。

芯片,太热了

过去几十年,科学家们通过多种方法尝试将金刚石应用于电子器件的散热管理中。例如,通过化学气相沉积(CVD)在半导体上直接生长多晶金刚石,或者通过高温高压条件下将金刚石与半导体直接结合。这些方法虽然展现出了一定的效果,但由于工艺温度过高(通常超过400℃)或引入较大的热阻,限制了其在现代芯片封装中的广泛应用。

成都态坦申请测试装置及测试机专利,提升生产效率

该测试装置包括多个测试机构、飞梭机构和第一夹取机构,多个测试机构分为多组,多组测试机构分别设置于不同高度处,同组的测试机构沿第一方向依次设置,且测试机构能够接收并测试芯片;飞梭机构具有至少一个载料部,载料部能够沿所述第一方向移动,且载料部能够承载至少一个芯片;第一夹取机构至少能够将芯片在测试机构和...