【测试案例分享】 Keithley电化学测试方法与应用
确定材料电阻率的最佳技术取决于所涉及材料的类型、电阻的大小和样品的几何形状。导体/半导体—加电流测电压导体或半导体的电阻率通常是4线配置,输入电流和测量样品的电压来确定的。4线配置最大限度地减少引线和接触电阻,以减少它们对测量精度的影响。在这种配置中(图5),两根引线用于产生电流,另一...
史无前例的精准测量!先进的低温探针台让数据不再漂移
系统采用M81的BCS-10低噪声平衡电流源、VM-10纳伏测量模块(如图9所示)以及M81内部自带的锁相测量模块,可以进行超高精度的低电平电学测量。这样,系统不仅可以轻松地测量超导材料从~1MΩ电阻连续变化至1mΩ级的电阻率(如图10所示),而且由于不需要进行量程切换,因此不会出现数据漂移问题。图10:M81对超导材料从~1MΩ...
三星取得半导体器件及其制造方法专利,该专利技术能实现制造出电阻...
该半导体器件包括第一字线、第一位线,模制膜和第一存储单元。第一位线与第一字线的方向交叉并且与第一字线隔开。模制膜填充第一字线与第一位线之间的空间。第一存储单元在模制膜中并且在第一字线与第一位线之间。第一存储单元包括在第一字线上的第一下电极、在第一下电极上的第一相变膜、在第一相变膜上的...
四探针电阻率测定仪在微纳电子学中的应用
四探针电阻率测定仪依据的是范德堡原理,通过四根探针以一定的排列方式接触到样品表面,利用电流探针和电压探针之间的电磁关系来测定样品的电阻率。与传统的二探针方法相比,四探针方法可以消除接触电阻的影响,得到更准确的测量结果。在微纳电子学领域,由于器件尺寸的缩小,对材料的电性能要求更为严格,这种无接触电阻影响的...
电阻率试验 电导率测定
电阻率试验的测量方法有多种,其中四探针法是一种常用的方法。四探针法通过在试样表面施加四个探针,测量探针之间的电阻值,从而计算出试样的电阻率。四探针法具有测量准确、操作简便、适用范围广等优点,因此在电阻率试验中得到了广泛应用。电阻率试验的结果可以用于评估材料的导电性能、研究材料的电学性质、优化材料...
泓人观点 | 半导体材料行业研究分析
对于传统的硅半导体产业链而言,在硅片上制作器件(特别是高频大功率)无法实现集电区高击穿电压,小串联电阻,小饱和压降要小的要求(www.e993.com)2024年9月7日。而外延技术的发展则成功地解决了这一困难。解决方案:在电阻极低的硅衬底上生长一层高电阻率外延层,器件制作在外延层上,这样高电阻率的外延层保证了管子有高的击穿电压,而低电阻的衬底...
谁能替代铜互连?_腾讯新闻
我们将首先讨论电阻率对纳米尺寸的敏感性,并介绍材料筛选过程。随后将引入可靠性(TDDB)和电迁移(EM)。本论文还介绍了这一方法在元素、二元和三元金属中的应用,并讨论了目前和未来的研究方向。由于金属选择与未来集成方案之间存在密切关系,我们将在未来技术节点中解决替代金属的集成和工艺问题。
谁能替代铜互连?
虽然铜“双大马士革”的进一步优化仍在进行中,但表1中路线图中的最小互连尺寸将需要使用潜在的新材料,工艺以及集成方案的颠覆性方法。如表所示,互连线和通孔的相关尺寸将在约5和10nm之间的范围内,这可以用作金属选择以及工艺开发的指导。二、纳米尺度的金属电阻率几十年来已经知道,金属纳米结构(例如薄膜或...
综述:生物医学应用的PMUT和CMUT器件
第一类中最突出的是单晶或多晶的PZT(锆钛酸铅)。PZT是1952年首次开发的一种压电材料,由于其压电常数d????很高,是PMUT薄膜最常见的选择,并且其在低输入电压下具有高灵敏度,使其成为医用超声的合适候选材料。薄膜PZT通过物理方法(例如RF/激光溅射)或化学涂层技术(例如MOCVD、溶胶-凝胶)制备而成。
《Nano Letters》:利用原位TEM测量材料纳米尺度的电阻率!
这种测量局部电导率的新方法,不仅适用于相变材料,也适用于其他以电阻变化为主要特征的存储器件,如新型忆阻器等。同时,结合TEM的层析技术,这种方法也可用于材料三维尺度的微观电导率测量。(投稿作者:一花一木)本文来自微信公众号“材料科学与工程”。转载请联系并保留此框文字。