芯瞳半导体“一种通信控制方法、系统级芯片、电子设备及存储介质...
芯瞳半导体“一种通信控制方法、系统级芯片、电子设备及存储介质”专利获授权天眼查显示,芯瞳半导体技术(山东)有限公司近日取得一项名为“一种通信控制方法、系统级芯片、电子设备及存储介质”的专利,授权公告号为CN117520252B,授权公告日为2024年4月16日,申请日为2024年1月8日。本申请公开一种通信控制方法、系统...
矽电股份申请半导体载片台的精度测量系统、方法以及存储介质专利...
矽电股份申请半导体载片台的精度测量系统、方法以及存储介质专利,能够同时对载片台的长度方面和高度方面进行测量,提高测量的准确度,光学,介质,半导体,传感器,反射镜,载片台,矽电股份,精度测量系统
国产半导体设备四巨头罕见对话,信息量爆棚!
半导体不是一个科学问题,而是工程问题。要不断的替代、迭代,才能持续进步。我觉得最难的也是你第一步,怎么进去。第一台设备的验证。这一过程也是在客户和很多朋友的支持下,获得了很多机会,还收到了非常好的要求和建议。这也使得我们企业跟着客户的节奏快速迭代,才实现了快速发展。陈鲁:最难忘的时候就是我们公司刚...
国内半导体正在破局—专利项
根据介绍,本发明提供一种半导体结构的形成方法,包括:提供衬底,所述衬底包括逻辑区和存储区,所述存储区包括字线区;在所述存储区上形成初始字线栅层;在所述初始字线栅层的顶部表面和所述逻辑区的所述衬底的表面形成初始栅氧层;对所述初始栅氧层进行热氧化处理,形成栅氧层,所述初始字线栅层表面的所述栅氧层的...
...专利授权:“半导体检测方法、半导体检测系统及可读存储介质”
专利摘要:本申请公开了一种半导体检测方法、半导体检测系统、及非易失性计算机可读存储介质。半导体检测系统包括检测仪与承载件,检测方法包括:校准放置在承载件上的工件的初始位置;对工件的中心位置进行聚焦以获取参考高度;对工件的至少一个待测位置进行聚焦,以获取聚焦信息;根据聚焦信息与参考高度获取补偿信息;及根据补偿...
长鑫存储申请半导体结构及其制造方法、存储器专利,该半导体结构...
长鑫存储申请半导体结构及其制造方法、存储器专利,该半导体结构包括:衬底;堆叠结构,位于衬底上,至少包括多个第一介质层,电容,介质,晶体管,存储器,长鑫存储,半导体结构
比亚迪半导体取得配置芯片及调用程序的方法、装置、存储介质及...
金融界2024年5月11日消息,据国家知识产权局公告,比亚迪半导体股份有限公司取得一项名为“配置芯片及调用程序的方法、装置、存储介质及电子设备“,授权公告号CN114116018B,申请日期为2020年8月。专利摘要显示,本公开涉及一种配置芯片及调用程序的方法、装置、存储介质及电子设备,该配置芯片方法通过确定待配置功能对应的...
...设备及计算机可读存储介质专利,有利于提高半导体器件模型的...
专利摘要显示,本披露公开了一种半导体器件模型的仿真方法、设备及计算机可读存储介质,该仿真方法包括:使用第一仿真进程组对半导体器件模型的一级电学参数进行第一仿真,以得到第一仿真结果;使用第二仿真进程组对所述半导体器件模型的二级电学参数进行第二仿真,以得到第二仿真结果,其中所述二级电学参数是基于所述一级电学...
...存储器的测试方法、装置、设备及介质专利,能够提高半导体存储...
金融界2024年3月26日消息,据国家知识产权局公告,长鑫存储技术有限公司申请一项名为“存储器的测试方法、装置、设备及介质“,公开号CN117766009A,申请日期为2022年9月。专利摘要显示,本
「介质」详解NVMe SSD存储性能影响因素
1.存储介质的变革近几年存储行业发生了翻天覆地的变化,半导体存储登上了历史的舞台。和传统磁盘存储介质相比,半导体存储介质具有天然的优势。无论在可靠性、性能、功耗等方面都远远超越传统磁盘。目前常用的半导体存储介质是NVMeSSD,采用PCIe接口方式与主机进行交互,大大提升了性能,释放了存储介质本身的性能。通常...