...申请激光器专利,降低高功率激光器的失效率,提升器件的整体可靠性
金融界2024年3月22日消息,据国家知识产权局公告,华为技术有限公司申请一项名为“激光器“,公开号CN117748288A,申请日期为2022年9月。专利摘要显示,本申请涉及一种激光器。包括:基板和其上的半导体发光结构,基板包括依次堆叠的基底、导电层和焊料层;焊料层位于导电层的中间区域,且导电层位于焊料层的两侧的部分分别...
精益生产TPM管理之设备的可靠性提升管理--MTBF
具体计算中,如果考虑到整机的MTBF,那么公式为:MTBF=(T1+T2+…Tn)/rn,其中,T1,T2,…,Tn表示第i台设备的累计工作时间,rn表示在试验期间内设备出现的故障总数。此外,还有指数分布方法用于推算MTBF值,它利用失效率λ的倒数来估算产品的可靠度。4、MTBF的运用。在运用上,企业可以通过推行TPM咨询活动,结合设备维修...
品质的基本保证——可靠性
一般记为λ,它也是时间t的函数,故也记为λ(t),称为失效率函数,有时也称为故障率函数或风险函数。Λ(t)=dr/Nsdt其中λ(t)——瞬时失效率;dr——失效数的增量Ns——剩余产品数dt——时间增量6、可靠性寿命平均故障间隔时间meantimebetweenfailures(MTBF)可修复产品的一种基本可靠性参数。
TPM管理:设备的可靠性提升管理--MTBF
具体计算中,如果考虑到整机的MTBF,那么公式为:MTBF=(T1+T2+…Tn)/rn,其中,T1,T2,…,Tn表示第i台设备的累计工作时间,rn表示在试验期间内设备出现的故障总数。天行健精益生产咨询公司专注于精益管理研究,致力于为企业定制符合其需求的精益生产管理解决方案。此外,还有指数分布方法用于推算MTBF值,它利用失效率λ的倒...
基于ISO 26262的车身域控制器开发
具体计算公式如下:(1)(2)式中:下标“SR,HW”表示安全相关的硬件元素;λ为安全相关失效率;MSPF为单点故障度量;MLF为潜在故障度量;MPMHF为随机硬件失效概率度量;λSPF为单点故障失效率;λRF为残余故障失效率;λMPF,Latent为潜在多点故障失效率;T为产品生命周期。
【世说芯语】浅谈因电迁移引发的半导体失效
Microchip的这款Flash架构的FPGA最大的一个特点是电流密度小、抗干扰能力强、动态切换不会出现电流波动,基于其低功耗的特点,可大大延长产品使用寿命(www.e993.com)2024年7月31日。非常适合应用在高可靠性、低失效率应用场合,能高效改善因电迁移引发的半导体失效问题。其授权代理商Excelpoint世健可提供技术支持和指导。
JEDEC半导体可靠度测试与规范LABCOMPANION
加速寿命试验用于提早发现半导体潜在故障原因,并估算可能的失效率透过本章节提供相关活化能与加速因子公式,用于加速寿命测试下进行估算与故障率统计。推荐设备:高低温试验箱、冷热冲击试验箱、高度加速寿命试验箱、SIR表面绝缘电阻量测系统JEP150.01-2013与组装固态表面安装组件相关的应力测试驱动失效机理...
宜普电源转换公司(EPC)的可靠性测试报告记录了超过170亿小时测试...
宜普电源转换公司发布第七阶段可靠性测试报告,展示出在累计超过170亿器件-小时的测试后的现场数据的分布结果,以及提供在累计超过700万器件-小时的应力测试后的详尽数据。各种应力测试包括间歇工作寿命[(IOL)[、早期寿命失效率[(ELFR)、高湿偏置、温度循环及静电放电等测试。报告提供受测产品的复合0.24FIT失效率的现场...
创新降本方法之基于量化产品可靠性的降本策略
基于相同的原理,我们还可以用统计的方法估计产品的失效率,计算出提高产品的可靠性(降低产品的失效率)而增加的一系列成本,并且计算出因为减少了产品失效而相应减少的损失,从而根据二者的差值计算出最大化利润,从而实现从产品出生到坟墓全流程的降本,而不是只着眼于生产阶段。
电子微组装可靠性的系统性设计
可靠性模型的作用是评估产品的可靠性,包括失效率、寿命或可靠度的评估,可采用数理统计方法建模,也可采用基于失效物理的寿命-应力方法建模,通过可靠性模型的分析计算,可以评估微组装产品可靠性设计是否达到预期设计指标。微组装产品可靠性建模,考虑两个阶段:随机失效阶段的失效率模型、耗损失效阶段的可靠寿命模型,前者针对...