SPC 之 I-MR 控制图
控制下限:=(()??)??(??()??)或LCL=0(计算结果为负值时)移动极差平均值法的结果打开网易新闻查看精彩图片移动极差中位数法的结果打开网易新闻查看精彩图片结论手动计算的过程比较复杂,而且还可能会出错,但是有了Minitab的帮助,我们只需要选择好合适的控制图后,点击几下就可...
优思学院|制作SPC控制图一定要用Minitab吗?
以下是控制限的计算公式:这些公式中的常数(A2、D3和D4)可以在统计表格中找到,具体数值取决于所用的样本大小。如果你有任何问题,都请随时留言告诉我们,我会尽力解答的。
QP-PG-06测量系统分析程序---IATF16949体系文件
7.4.7.3负责组织此项%R&R测量系统分析研究的工作人员,依据“量具极差法分析表”的数据和产品质量特性/规格进行计算,并将其计算结果记录于“量具极差法分析表”上;必要时,可将其作成X-R控制图。A)、每个被测量产品的极差是评价人A获得的测量结果与评价人B获得的测量结果或评价人C获得的测量结果的绝对差值,然...
CP / CPK / PP / PPK / CM / CMK / CG / CGK 超全能力指数大对比
1、PP,PPK的计算公式与CP,CPK计算公式相同。2、区别:变差(标准差)σ的计算方式不同。PPK时,σ为标准差公式计算得来;cpk时,σ-R/d2度差=子组极差均值/变差常数,PPK的变差包括普通因素和特殊因素产生的两种变差,对相同工程而言大于CPK变差。因此理论上CPK=PPK,但实际使用minitab时会出现PPK略大于CPK,因为CP...
一学就会的SPC_控制_Cpk_过程
控制图中最常用是均值—极差图,即Xbar—R控制图,其中心线和控制限的计算公式如下:图五Xbar—R图中心线和控制限的计算公式02过程能力以最常用的过程能力指数—Cpk来说明过程能力指数—Cpk,是指过程的加工质量满足技术标准的能力,计算公式Cpk=min{(USL-Xbar)/3σ,(Xbar-LSL)/3σ}。他的应用条件是过程稳定...
质量工程师知识点:常规控制图控制线的公式
书上列举了8类常规控制图的中心线、上控制限、下控制限的计算公式(www.e993.com)2024年10月19日。需要说明的是,在确定中心线及控制限时,需要抽取多个样本。这样的样本称为子组,相应的样本量n称为子组大小。常规控制图控制线的公式书上列举了8类常规控制图的中心线、上控制限、下控制限的计算公式。需要说明的是,在确定中心线及控制限时,需...
项目管理专栏︱浅析项目范围管理、项目成本管理和项目时间管理
项目范围优化可以采取减法程序体现为一个从必要性上限到可行性下限的优化过程。项目范围优化也可以采用加法程序体现为一个从可行性下限到必要性上限的优化过程。打开网易新闻查看精彩图片将所有项目涵盖内容设定三个等级:必须有的、可争取的、有希望的。总结一下上述两种项目范围确定模式的特点:...
统计过程控制:别看小小一工具 解决牛奶制品质量安全大难题
移动极差控制图计算公式如下:式中,RUCL表示移动极差控制图的上控制限,RCL表示移动极差控制图的中心线,RLCL表示移动极差控制图的下控制限。相关系数计算公式如下:式中,r表示相关系数,xi和yi分别表示在i波长处两样品的紫外光谱吸光度值。本实验选择的紫外光谱波长范围为200~350nm,i等于1...
芯片制造中的软力量(中)
1.3.4.1.Run-to-run控制策略R2R控制技术是半导体工业中广泛用于保证产品品质的一类算法。下图是基于模型的R2R控制结构图。在每个批次开始之前,基于之前在该机台加工过的晶圆质量信息和待加工晶圆的信息,控制器以输出偏差最小为目标,计算求得该机台操作的最佳配方,从而使待加工晶圆通过该机台的处理达到期望...
【质量控制】Cmk、Cpk、Ppk的区别及应用场景
公式解释S:取样数据的标准差,用STDEV公式直接计算T:公差范围,即上、下极限值之差K:为修正系数或偏离系数Bi:平均值Xbar和测量的理论中间值之差Bi=[Xbar-图纸中间值-(上偏差+下偏差)/2]USL:图纸上限尺寸,(中间值+上公差)LSL:图纸下限尺寸,(中间值+下公差)...