可靠性分析中的 Weibull 分布
2.Weibull分布参数、可靠性函数和故障函数之间的关系通过调整Weibull分布的形状参数β,可以对许多不同寿命分布的特征建模。0<??<1早期失效发生在产品寿命的初始阶段。这些失效可能会迫使产品进入“老化”阶段以降低初期失效的风险。概率密度函数从无穷远处成指数递减故障函数初始失效率很高,随着时...
品质的基本保证——可靠性
可靠性的基本概念即:可靠度,故障概率,故障(失效)率,故障概率密度,寿命等的表示与数量指标,以及他们之间的相互关系,他们代表了产品可靠性的基本内容。2、可靠度R(t)是产品在寿命周期内完成规定功能的指标。按我国国标规定,可靠度的定义是“在规定条件下,规定时间内完成规定功的概率”。即产品在规定条件下规定时间...
JEDEC半导体可靠度测试与规范LABCOMPANION
温度循环(TCT)测试是让IC零件经受极高温和极低温之间,来回温度转换的可靠度测试,进行该测试时将IC零件重复暴露于这些条件下,经过指定的循环次数,过程成被要求其指定升降温的温变率(℃/min),另外需确认温度是否有效渗透到测试品内部。推荐设备:冷热冲击试验箱JESD22-A105D-2020功率和温度循环本测试适用于受温度...
北京航空航天大学2025研究生《系统安全与可靠性工程综合》考试大纲
1、要掌握抽样概率(包括放回与不放回两种抽样方式)的计算;要掌握条件概率、全概率和贝叶斯公式的计算及应用。2、要掌握二项分布、负二项分布、泊松分布、超几何分布的概率分布与数字特征。3、要掌握指数分布、威布尔分布、正态分布、对数正态分布的失效分布函数(不可靠度函数)、可靠度函数、失效率函数。4...
汽车功能安全与可靠性的关系
可靠性常用度量指标包括:可靠度R(t)、失效率(故障率)λ(t)、平均无故障工作时间MTBF、可靠性寿命等。两者的度量指标不同,导致的评价方法也不同。总之,并不是功能安全越好,可靠性越高;也不是可靠性高,功能安全就越好。功能安全好的产品,产品的可靠性可能会降低。反之,可靠性很高的产品,如果在产品设计中不考虑...
精益生产TPM管理之设备的可靠性提升管理--MTBF
MTBF的计算方法主要遵循特定的公式:MTBF等于总运行时间除以故障次数(www.e993.com)2024年7月31日。具体计算中,如果考虑到整机的MTBF,那么公式为:MTBF=(T1+T2+…Tn)/rn,其中,T1,T2,…,Tn表示第i台设备的累计工作时间,rn表示在试验期间内设备出现的故障总数。此外,还有指数分布方法用于推算MTBF值,它利用失效率λ的倒数来估算产品的可靠度。
依米康亮相世界清洁能源装备大会 清凉温控铸就可靠储能
依米康储能液冷产品涵盖面向储能集装箱的冷源机组及其全套方案、及面向储能柜场景的单元式冷源机组,可根据客户需求设计灵活的换热方式,具有高密度、高可靠、高能效、高可用特性,支持低温启动,预制化程度高,实现现场快速部署,有效带走电池热量,失效率大幅降低,完美适用高功率、采用280Ah以上大容量电芯的储能产品。
浅谈因电迁移引发的半导体失效
按照Black模型公式:半导体元器件的失效机理与材料、电子碰撞间隔平均自由时间、有效散射横截面积的因素常量A,电流密度j,绝对温度T等因素相关。Blench和Korhonen等人进一步对电迁移物理模型进行完善。半导体元器件的失效机理单元模型寿命可靠度函数符合欧拉公式。
万字聊聊汽车MCU芯片
在汽车电子系统中,车规级MCU芯片通常具备多种内存类型,包括SRAM(静态随机存取存储器)、DRAM(动态随机存取存储器)、NORFlash(非易失性存储器)和NANDFlash(非易失性存储器)等。这些不同类型的内存可以满足不同的应用需求,如实时数据处理、存储程序代码和配置数据等。这些存储器在汽车电子系统中的应用体现了它们各自...
汽车MCU芯片知识点梳理
在汽车电子系统中,车规级MCU芯片通常具备多种内存类型,包括SRAM(静态随机存取存储器)、DRAM(动态随机存取存储器)、NORFlash(非易失性存储器)和NANDFlash(非易失性存储器)等。这些不同类型的内存可以满足不同的应用需求,如实时数据处理、存储程序代码和配置数据等。这些存储器在汽车电子系统中的应用体现了它们各自...