SPC 之 I-MR 控制图
首先解释移动极差控制图(MR控制图)以检查过程变异。没有位于控制限外部的点且所有的点都显示出随机模式。因此,过程变异受控制,质量工程师可以检查单值控制图(I控制图)上的过程中心。I控制图上的一个观测值在检验1中失败,因为观测值在中心线上方且距离中心线超过3个标准差。I-MR控制图的控制限计算(...
ISO9001质量体系:过程能力分析SPC管理程序-文件范本
5.5.1.1使用P控制图的样本数(N)以能够发现1-5个不良品最为适当,样本数的决定公式为:N=1/p或N=5/P(此时平均不良下限率P可从过去资料得知);5.5.1.2若未决定样本数,导致管制下限小于0,则下限取0。5.5.2控制图的管制界限必须依管制上、下限公式计算,若样本改变时,以实际样本数代入;5.5.3控制图之...
芯片制造中的软力量(中)
半导体制造过程的控制系统一般由厂级、产品级和机台级三部分组成,控制策略以Run-to-run控制算法为主,图1给出了多层控制系统的组成结构。厂级控制层主要实现经营决策,并根据晶圆验收测试结果WAT(waferacceptancetesting)来实现协同控制功能。产品级控制的主要功能是更新机台实时控制器的设定值,这些设定值称之为配方,故...
【质量控制】Cmk、Cpk、Ppk的区别及应用场景
CPK计算经常与控制图Xbar-R图一起使用(判断是否是稳定状态,确定授控后,才计算CPK)分组抽样,长时间取样考虑中心有偏移PPK是指过程性能指数,是进入大批量生产前,对小批生产的能力评价,PPK反映的是当前合格率水平。公式解释S:取样数据的标准差,用STDEV公式直接计算T:公差范围,即上、下极限值之差K:...
中国管理传播网:管理新趋势-精益质量管理简析
用正态分布来解释,就是在正态分布单侧从均值到公差上限或下限范围内可容纳6个标准差;传统控制图理论则是单侧3个标准差,不合格率控制在0.27%水平。6西格玛管理对控制图3倍控制限进行了彻底突破,将西格玛水平指标由3提高到6。我们应认识到,以3西格玛水平为标准的控制图及统计过程控制SPC理论和方法,在实际中仍是...
用EXCEL处理质量数据(组图)
首先计算平均值控制图的中心线的值,即全部观测值的平均值,在J3单元格内输入“=SUM($H$3:$H$27)/COUNTA($H$3:$H$27)”,同理可得极差控制图的中心线的值;其次计算平均值控制图的上控制线的值,根据平均值上限的计算公式UCL=X+A2×R,查表可得A2=0.577,因此在L3单元格内输入“=J3+0.577*K3”,同理...
【体系管理】SPC管理程序|spc|控制图|系数|平均值|cpk|全距_网易...
等(X-R控制图)。4.2计数值特性4.2.1凡产品的品质特性不连续、不易或不能以实际测量方式取得,只能间断取值的特性,例如:不合格数、不良率等(P管理图)。4.3SPC:StatisticalProcessControl,统计制程控制。4.4UCL:管制上限。4.5LCL:管制下限。