南京微盟电子申请可修调高精度低温漂电压基准源的批量测试方法及...

本发明利用ATE测试设备的自动化测试原理,通过温度采集电路对全温度(??40℃至125℃)数据进行采集,利用开关切换来同时精确测量大量芯片的电压基准,利用ATE测试机的运行程序实现测试数据的分析处理,得出芯片的电压基准数值和温漂系数后再利用修调技术进行对应的修调。最后第二次全温(??40℃至125℃)测试得到准确...

上海宙之盾申请集成电路芯片高低温测试设备及其测试方法专利,达到...

本发明通过设置侧杆、半圆盘和第二侧口挡块,由于驱动电机和风机的运行,从而使得转盘通过侧杆带动半圆盘旋转打开连通电热箱或电冷箱其中一个的导气管使气流进入,同时使得侧杆通过方框块与侧块和刚性弹簧带动连接杆发生移动,进而使得连接杆通过第一侧口挡块与旋转块和套杆推动第二侧口挡块打开连通测试机构的管道进行测试...

芯片老化测试,这家公司享誉盛名

史密斯英特康的芯片老化性测试包括了极端工作环境测试,即在高温(HTOL)100度至150度的模拟使用环境下持续测试数小时或者在低温(LTOL)等环境中芯片测特性变化并收集收据;加速老化测试(HAST),模拟芯片的使用过程,对其进行加速检测,测试芯片使用中的参数变化;可靠性测试,检测芯片引脚丝球、焊点、线弹性等方面的可靠性测试等...

晶存科技芯片测试总部基地开业 加速布局存储芯片领域

该存储芯片测试总部基地以自动化、信息化、智能化为基础，建设了多条芯片测试产线，先后引进了自动测试分选机、Ballscan视觉检测机、自动摆盘机、高低温测试设备等关键设备，自动化程度达到90%以上，大大提升了生产效率和检测精度，确保产品质量稳定可靠。如今，伴随着晶存科技存储芯片测试总部基地的开业，标志着公司正式...

西电朱樟明教授团队在亚10K低温高速模拟集成电路取得重要突破

相关测试在外单位完成,并已通过第三方测试。据悉,模拟集成电路教育部重点实验室将面向深空探测和量子计算应用,进一步开展低温光电探测器、低温高速模拟信号链、低温大规模量子比特阵列操控系统芯片等研究工作。

集成电路的测试方法及其重要性

边界扫描是一种先进的测试方法,通过在IC内部添加测试电路,使得在芯片的边界部分进行测试成为可能(www.e993.com)2024年11月17日。这种方法适用于复杂的集成电路,能有效降低测试成本。环境测试:环境测试是为了评估集成电路在极端条件下的性能,通常包括高温、高湿、盐雾等多个方面。这种测试可以确保集成电路在实际应用中的可靠性。

高温低温都不怕 上理工团队研发芯片精准智能测试系统

图说：上理工芯片高低温智能测试系统来源/采访对象提供冬季在北方用手机拍冰雪、拍雾凇，手机突然“死机”，驾驶酷炫大屏的新能源汽车在炎热夏天高速行驶，突然遭遇“黑屏”，这些现象可能是因为芯片不稳定造成的。为了评估芯片在极高、极低、常温温度下的性能和可靠性，在芯片出厂前来个“质检”，上海理工大学健康...

芯片,太热了

热管工作原理热管具有极高的导热效率,且体积较小,重量轻,适合应用于空间受限的设备中。但尽管热管导热效率高,但其散热能力受到热管数量和设计的限制,主要用于中等功耗或空间受限的场景,难以在超高功率芯片中单独使用。VC均热板:在热管的结构基础上,二维均温技术(VC均热板)、三维的一体式均温技术(3DVC均热板)...

...128 路模拟开关芯片测试专利,实现 128 路模拟开关 ATE 自动测试

金融界2024年9月30日消息,国家知识产权局信息显示,中国电子科技集团公司第五十八研究所申请一项名为“一种128路模拟开关芯片的测试方法及测试装置”的专利,公开号CN118707293A,申请日期为2024年6月。专利摘要显示,本发明公开一种128路模拟开关芯片的测试方法及测试装置,属于电路测试领域,...

一站式《功率半导体:封装、测试与可靠性》培训课启动,行业新纪元...

第6部分为环境可靠性测试首先对可靠性测试测试理论进行了探讨,然后主要分析了机械振动、机械冲击、温度冲击和高低温存储四类不需要施加电应力的可靠性测试技术、原理和失效机理。第7部分为电应力可靠性测试主要考虑环境应力与电应力的耦合,包括高温栅偏、高温反偏、高温高湿反偏的测试原理、方法、失效机理和判定以...