江南大学焦星辰/中科大谢毅Angew:钯颗粒负载的Nb??O??纳米片...
图1e中的Pd3dXPS光谱显示了以334.92eV和340.47eV为中心的独特峰,表明存在金属Pd。此外,在336.61eV和342.01eV处的峰,说明存在Pd2+。换句话说,Pd的价态与0和+2共存。如XPS光谱(图1f)所示,在Pd负载后,观察到的Nb3d结合能的降低意味着电子从Pd物种向Nb位点的部分转移。这暗示了Nb原子上电子浓度的增加...
科研必备技能 | XPS积分填充峰面积技巧分享!
02如果XPS的图层大小不是很好看,我们鼠标右击图层1,找到图层管理。图源:截图03调整大小尺寸并确认。图源:截图04选中其中一条曲线,找到快速分析,点击积分。图源:截图05选择基线,使用现有数据。图源:截图06我们的数据中Plot(3)是基线,所以选择它,并勾选整个绘图范围。图源:截图07积分框,勾选...
诺奖再遭质疑:每年一万多篇文章的 XPS 数据可能都是错的吗?
1967年,XPS奠基人K.Siegbahn在一本书中提出XPS谱图校准的方法:即通过测试AdC的信号来标定化学位移,并把C1s峰位定位285.0eV。这些碳被认为是来源于泵油,但是作者并未对此进行表征说明,也无视了碳元素的其他可能来源。即便如此,这一论述仍然像神话一样,在XPS数据分析领域占据了半个多世纪的主导地位。
【XPS】XPS只能做简单的元素/价态分析吗?Nature Commun.:准石墨化...
随着溅射时间的增加(即刻蚀深度的增加,以N掺杂为例(图4)),C元素峰强度(XPSC1s,285.3eV)逐渐降低,Cu元素峰强(Cu+LMM570.4eV)从无到有,逐渐增强,这进一步说明了该催化剂的准核壳结构,即在Cu颗粒表层覆盖了准石墨化碳层,同时通过深度剖面分析发现:N1s峰强度逐步降低,但是刻蚀到Cu纳米颗粒层时仍能观察到...
XPS数据处理必备 | 原理、特征、分析
具体操作:1)求取荷电校正值:C单质的标准峰位(一般采用284.8eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ;2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正:将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ,即得到校正后的峰位(整个过程中XPS谱图强度不变)。将校正后的峰位和强度作图得到的就是校正后的XPS谱图。
XPS数据处理必备 | 原理、特征、分析、软件及使用最全教程及资源...
具体操作:1)求取荷电校正值:C单质的标准峰位(一般采用284.8eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ;2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正:将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ,即得到校正后的峰位(整个过程中XPS谱图强度不变)(www.e993.com)2024年10月19日。将校正后的峰位和强度作图得到的就是校正后的XPS谱图。
XPS各类问题解答及知识详解
具体操作:1)求取荷电校正值:C单质的标准峰位(一般采用284.8eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ;2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正:将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ,即得到校正后的峰位(整个过程中XPS谱图强度不变)。将校正后的峰位和强度作图得到的就是校正后的XPS谱图。
干货| 一文解决XPS常见问题(附答案)
再比如下图存在着非常明显的错误:可以看出右上小图的背底是用XPSpeak软件分峰的,因为用Avantage选择smart也是不会作出这类背底效果的。此外,Mn的2P3/2峰大小和强度也是不好的。Q9.XPS元素含量与EDS不一致?为什么有些元素没有测出来?答:很正常,因为EDS测试深度通常在1-3μm,而XPS测试是在表面,通常小于5...
【材料课堂】Origin快速处理XPS能谱数据
4、拖动每一点到合适的位置(点住鼠标左键不放一直拖到合适的位置):如图5、然后选择substract得到6、分别点击X轴、Y轴将坐标更换为原来顺序和数值:7、如图:选择analysis→Fitmulti-peaks→gaussian8、出现下面的窗口:按需要拟合的子峰个数输入
拉曼光谱在碳材料制备研究中的应用
因为平滑有可能会对峰位和峰强造成细微改变,直接为数据分析引入误差。常用的平滑方法有S-G平滑、FFT滤波器和LOWESS平滑。在本案例中使用的是LOWESS平滑,选择的平滑窗口越宽(如图1中的蓝色曲线),虽然基线能够更平滑,但对于峰强的影响会越大。在本案例中,取最小的平滑窗口是最优的。因此,碳材料的光谱处理都需要...